물성DB소개

CMiB 물성DB는 플라스틱 및 정밀화학소재에 대한 물성, 용도 등에 대한 정보를 제공하고 있는 시스템으로 각 분야의 검증위원을 통해 정보의 신뢰성 확보를 위해 노력하고 있습니다.

SEM&TEM

설명

고분자 나노복합체나 나노필러의 SEM과 TEM의 이미지를 제공하는 DB로 필러의 분산도, 두께, 크기, 미세 결정구조를 볼 수 있습니다.
CNT(Carbon Nanotube), Graphite 등의 필러 정보를 제공하고 있습니다.

측정방법

SEM(Scanning Electron Microscope, 주사전자현미경)

전자선이 시료 표면을 고에너지 전자빔으로 주사(scanning)할 때 시료에서 발생되는 여러 가지 신호 중 그 발생확률이 가장 많은 이차전자(secondary electron) 또는 반사전자(back scattered electron)를 검출함으로써 대상 시료를 관찰합니다.

전기전도도

사단자법(Four point probe)을 이용한 전기전도도 측정은 반도체 재료에 대해 오래 전부터 이용돼 오고 있는 방법으로, 안쪽 두 점 사이의 전압과 바깥쪽 두 점 사이의 전류를 측정하여 thin layer 및 sheet의 저항치를 측정합니다.

측정장비

SEM(Scanning Electron Microscope, 주사전자현미경)

  • 모델명 : Scanning Electron Microscope S-2500C
  • 제조사 : Hitachi (일본)
  • 용 도 : SEM 이미지 관찰, EDS 정성 분석

전기전도도

  • Probe : Jandel Cylindrical four point probe(영국)
  • 전압계 : Nanoboltmeter (2182A)
  • 전류계 : Precision current source (6220)

자세한 사용방법은 매뉴얼을 다운로드 후 보시기 바랍니다.